מיקרואלקטרוניקה

תצלום של פני השבר בדגם סיליקון, על פני שני ישורי השבר, מראה שפרופיל הסדק הוא בעל עקמומיות מסויימת

סודות, סדקים ושברים

מתברר שככל שסדק בחומרים פריכים קצר יותר – כך הם יותר עמידים אליו, מה שיכול לסייע בתכנון ושימוש של יישומים שמתבססים על חומרים פריכים
פרופ' סימון ליצין בכנס ה-IEEE באוניברסיטת תל אביב. צילום: שמואל אוסטר

הקשר בין המצוינות המדעית והצלחת ההייטק הישראלי

אלקטרודות

שיטה חדשה להכנת אלקטרודות

סצנה קוסמית עם DNA, כוכבים, ממיסים ומעגלי אטומים בזרימה אוראלית.

מעבדה על שבב המופעלת באמצעות… מוזיקה