זו הפעם הראשונה במיקרוסקופיית סריקה תרמית (SThM) שמשתמשים יוכלו למדוד במהלך סריקה גם טמפרטורות עד C°700 בדיוק גבוה וברזולוציה ננומטרית
(AppNano) Applied NanoStructures , Inc, יצרנית הפרובים ל- AFM מקליפורניה, תציג בתערוכת ננו-ישראל שתתקיים ב- 24-25 במרץ את המודול החדש והייחודי שפיתחה למדידת טמפרטורות ולמדידת התנגדות תרמית בשילוב אפיון פני שטח בעזרת AFM (Atomic Force Microscope).
התכנון של ה-VertiSense Scanning Thermal Microscopy (SThM) Module מאפשר לקבל באופן סימולטאני מיפוי טמפרטורות וקונטרסט מוליכות תרמית יחד עם הדמיות טומוגרפיות.
זו הפעם הראשונה במיקרוסקופיית סריקה תרמית (SThM) שמשתמשים יוכלו למדוד במהלך סריקה גם טמפרטורות עד C°700 בדיוק גבוה וברזולוציה ננומטרית.
ה VertiSense Thermal Imaging Module מתאים לשימוש עם רוב מכשירי ה AFM המסחריים.
מדשרו סחר המייצגת את AppNano בישראל נמסר כי ד"ר Ami Chand מ AppNano יתארח וירצה בכנס על המודול ושימושיו.